Short-Wave Infrared (SWIR) foarmet in spesifyk manipulearre optyske lens ûntworpen om koarte-wave ynfraread ljocht te fangen dat net direkt te waarnimmen is troch it minsklik each. Dizze band wurdt gewoanlik oanwiisd as ljocht mei golflingten dy't spanne fan 0,9 oant 1,7 mikrons. It operative prinsipe fan 'e koarte-wave ynfraread lens hinget ôf fan' e oerdracht eigenskippen fan it materiaal foar in spesifike golflingte fan ljocht, en mei help fan spesjalisearre optyske materialen en coating technology, de lens kin bekwaam fiere koarte-wave ynfraread ljocht wylst ûnderdrukke sichtber ljocht en oare net winske golflingten.
Syn wichtichste skaaimerken omfetsje:
1. Hege transmittânsje en spektrale selektiviteit:SWIR-lenzen brûke spesjalisearre optyske materialen en coatingtechnology om hege transmittânsje te berikken binnen de koartewelle ynfrareadband (0,9 oant 1,7 mikrons) en besitte spektrale selektiviteit, fasilitearje de identifikaasje en konduksje fan spesifike golflingten fan ynfraread ljocht en de remming fan oare golflingten fan ljocht .
2. Chemyske korrosjebestriding en thermyske stabiliteit:It materiaal en de coating fan 'e lens demonstrearje treflike gemyske en thermyske stabiliteit en kinne optyske prestaasjes ûnderhâlde ûnder ekstreme temperatuerfluktuaasjes en ferskate omjouwingsomstannichheden.
3. Hege resolúsje en lege ferfoarming:SWIR-lenzen manifestearje hege resolúsje, lege ferfoarming, en rappe optyske attributen, en foldogge oan de easken fan hege-definysje-ôfbylding.
Koartegolf ynfraread lenzen wurde wiidweidich brûkt yn it domein fan yndustriële ynspeksje. Bygelyks, yn it produksjeproses fan semiconductor, kinne SWIR-lenzen gebreken yn silisiumwafels ûntdekke dy't dreech binne te detektearjen ûnder sichtber ljocht. Koartegolf ynfraread imaging technology kin fergrutsje de krektens en effisjinsje fan wafer ynspeksje, dêrmei ferminderjen fan produksje kosten en ferbetterjen produkt kwaliteit.
Koarte-wave ynfraread linzen spylje in fitale rol yn semiconductor wafer ynspeksje. Om't koartegolf ynfraread ljocht silisium kin permeate, stelt dit attribút koarte-wave ynfraread linzen yn steat om defekten yn silisiumwafels te detektearjen. Bygelyks, de wafel kin spleten hawwe fanwegen oerbliuwende stress tidens it produksjeproses, en dizze spleten, as net ûntdutsen, sille direkt ynfloed hawwe op de opbringst en de produksjekosten fan 'e definitive foltôge IC-chip. Troch it brûken fan koarte-wave ynfraread lenzen, kinne sokke defekten effektyf wurde ûnderskieden, en befoarderje dêrmei produksje effisjinsje en produkt kwaliteit.
Yn praktyske tapassingen kinne koartegolf-ynfraread-lenzen hege kontrastôfbyldings leverje, wêrtroch sels minuten defekten opfallend sichtber binne. De tapassing fan dizze deteksjetechnology ferbettert net allinich de krektens fan detectie, mar ferminderet ek de kosten en tiid fan manuele deteksje. Neffens it merkûndersyksrapport nimt de fraach nei koarte-golf ynfraread lenzen yn 'e merk foar healgelearderdeteksje jier nei jier op en wurdt ferwachte dat se in stabile groeitrajekt yn' e kommende pear jier behâlde.
Post tiid: Nov-18-2024